51探花

东北大学大学院生の筑田直也、多元物质科学研究所の进藤大辅教授と理化学研究所の新津甲大特别研究员らの研究グループは、各种の絶縁体にイオンビームによる微细加工を施して形态を制御し、电子线照射により帯电した絶縁体试料表面で、放出された２次电子の蓄积を、电子线ホログラフィーにより可视化することに成功しました。
　本研究成果は、日本顕微鏡学会　第72回学術講演会 仙台（2016.6.14-2016.6.16）で発表される予定です。

(a)Ｙ字型に加工されたエポキシ樹脂試料周辺の電位分布を示す位相再生像。 (b)二階調化した振幅再生像。画像の青色領域は試料形状を示す。

详细（プレスリリース本文）

问い合わせ先

（研究に関すること）
国立大学法人东北大学多元物质科学研究所
教授　进藤　大辅（シンドウ　ダイスケ）
TEL: 022-217-5170
E-mail: shindo*tagen.tohoku.ac.jp（*を@に置き換えてください）

助手　佐藤　隆文（サトウ　タカフミ）
TEL: 022-217-5169
E-mail: t-sato*tagen.tohoku.ac.jp（*を@に置き換えてください）

（报道担当）
国立大学法人东北大学多元物质科学研究所
総务课総务係
罢贰尝：022-217-5204
贵础齿：022-217-5211