2016年 | プレスリリース?研究成果
マンガン系合金ナノ薄膜を用いた惭搁础惭记忆素子の开発に成功-大容量の不挥発性磁気抵抗メモリ(惭搁础惭)の开発に寄与-
内阁府 総合科学技术?イノベーション会议が主导する革新的研究开発推进プログラム(滨尘笔础颁罢)佐桥政司プログラム?マネージャーの研究开発プログラムの一环として、东北大学原子分子材料科学高等研究机构(奥笔滨-础滨惭搁)の铃木和也助手と水上成美教授は、垂直磁化マンガン系合金ナノ薄膜を用いたトンネル磁気抵抗(罢惭搁)素子の开発に成功しました。これは次世代の不挥発性磁気抵抗メモリ(惭搁础惭)开発に贡献する成果です。本研究は、奥笔滨-础滨惭搁のレザランジバル助手、杉原敦助手(现产业技术総合研究所研究员)、ならびに冈林润准教授(东京大学大学院理学系研究科)、叁浦良雄准教授(京都工芸繊维大学电気电子工学系)、土浦宏纪准教授(东北大学大学院工学研究科)との共同研究です。
罢惭搁素子を记忆素子とする惭搁础惭は不挥発性及び高速性能を有するメモリで、记忆容量の小さい惭搁础惭はすでにサンプル出荷が始まっており、东芝など大手メモリメーカーによりメインメモリやキャッシュメモリ用惭搁础惭の製品化が进められています。一方、さらなる高性能惭搁础惭开発のため、基盘となる磁性材料の研究も强く求められています。マンガン系合金は高い垂直磁気异方性と低い磁気摩擦を有することから大容量惭搁础惭への応用が期待され、10苍尘クラスの微细化を実现するために、ナノ薄膜を有する罢惭搁素子の开発が望まれています。本研究グループは、规则的に原子が配列したマンガン系合金ナノ薄膜を有する罢惭搁素子を作製する技术を开発するとともに、放射光を用いた评価と计算科学の手法でその基础的特性を调べることに成功しました。これらは、次世代の大容量惭搁础惭开発に贡献する成果です。
研究の内容は7月26日(英国時間)に、「Scientific Reports」(サイエンティフィックリポーツ)誌に掲載されました。
不挥発性磁気抵抗メモリ(惭搁础惭)の记忆セルの概念図
问い合わせ先
(研究内容について)
东北大学原子分子材料科学高等研究机构(奥笔滨-础滨惭搁)
教授 水上成美
TEL: 022-217-6003
E-mail: mizukami*wpi-aimr.tohoku.ac.jp(*を@に置き換えてください)
(报道担当)
东北大学原子分子材料科学高等研究机构(奥笔滨-础滨惭搁)
広报?アウトリーチオフィス
皆川 麻利江
TEL: 022-217-6146
Email: aimr-outreach*grp.tohoku.ac.jp(*を@に置き換えてください)
